Equipos de semiconductores » Metrología / Inspección (semiconductores)

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Usado Metrología / Inspección (Semiconductores)

  • KLA-TENCOR 28-0171 XP-POWER 101210 REV

    KLA-TENCOR 28-0171 XP-POWER 101210 REV 01 FUENTE DE ALIMENTACIÓN (RBD2.2)

    • Fabricante: KLA-Tencor

    Tipo de equipo/componente: ALIMENTACIÓN | Mpn: 28-0171

    $9,461 USD
    Rathdowney, Irlanda
  • Juego de Discos de Referencia

    Juego de Discos de Referencia Cilíndricos en Matriz, Métrico, 3 mm – 100 mm. 80209035

    • Fabricante: Matrix

    $542 USD
    Ashington, Reino Unido
  • HEIDENHAIN cabeza de lectura AE

    HEIDENHAIN cabeza de lectura AE LS LS 186 AELS 186 Idnr 326 797-03

    • Fabricante: Heidenhain

    $473 USD
    Saint-Chamond, Francia
  • KLA-Tencor Thermawave 14-018236 REV D

    KLA-Tencor Thermawave 14-018236 REV D BREAKOUT BOARD FRAME (R3S6.5)

    • Fabricante: KLA-Tencor

    Tipo de equipo/componente: MARCO DE LA PLACA DE CONEXIÓN | Mpn: 14-018236 REV D

    $1,915 USD
    Rathdowney, Irlanda
  • HORIBA, Ltd. Xtrology

    HORIBA, Ltd. Xtrology

    • Fabricante: Horiba

    Espesor de la película: Medición de espesor de película y calidad de la película, análisis de una sola capa o de varias capas | Propiedades ópticas: Medición de n (índice de refracción), k (coeficiente de extinci...

    Kioto, Japón
  • PLATO Serie

    PLATO Serie

      Vis: 375 nm, 405 nm, 532 nm | Nir: 980 nm, 1064 nm | Medición de arco: 10~1000um | Tamaño de la oblea: SEMI estándar 2”, 3”, 4”, 6”, 8”, 12” | Tipo de casete: Casete abierto, SMIF, FOUP | Identificación: Lector d...

      Kioto, Japón
    • HORIBA, Ltd. PD10

      HORIBA, Ltd. PD10

      • Fabricante: Horiba

      Este producto está disponible en los siguientes países y territorios: China Alemania Irlanda Israel Italia Corea (del Sur) Malasia Singapur Taiwán Reino Unido Estados Unidos | Peso: Aprox. 950 kg | Vidrio: 5,0 μm...

      Kioto, Japón
    • HORIBA, Ltd. PD10-EX

      HORIBA, Ltd. PD10-EX

      • Fabricante: Horiba

      Este producto está disponible en los siguientes países y territorios: China Alemania Irlanda Israel Italia Corea (del Sur) Malasia Singapur Taiwán Reino Unido Estados Unidos

      Kioto, Japón
    • PLATO-MicroScan

      PLATO-MicroScan

      • Fabricante: Microscan

      Kioto, Japón
    • OPM Series

      OPM Series

        H/w general: Sistema de carga de múltiples muestras | Etapa motorizada de 4 ejes (xy, bandeja, r): Etapa motorizada de 5 ejes (XY,Bandeja,R1,R2) | Elemento de medida: Longitud de onda en T(R)n%, T(R)% en n longit...

        Kioto, Japón
      • Serie PyroSense

        Serie PyroSense

          Resolución [°c]: 0.1 | Exactitud [°c]: ±1.0 | Longitud de onda [nm]: 950 ± 5 | Rango [%]: 0 ~ 100 | Resolución [%]: 0.1 | Exactitud [%]: ±1.0 | Exactitud de la tasa de crecimiento [%]: ±1.5 | Potencia [v]: CA 110...

          Kioto, Japón
        • PRIMA-LED

          PRIMA-LED

            Wafer: 4＂, 6＂ | Stage: XY-axis Linear stage, Z axis stage R stage with 1800RPM (Max) | Image camera: Resolution : 2048 x 2048 (4M pixel) Pixel size : 5.5 um x 5.5 um | Optical fiber: 400 um bundle core | Pmt: Por...

            Kioto, Japón
          • MiPLATO-SiC

            MiPLATO-SiC

              Scan method: Spiral scan with 1800 RPM rotation and linear motion | Laser: 20mW 355nm CW Laser * Beam size on surface : 2um diameter thru 50x objective lens | Detector: 4 PMTs, 1 Spectrometer | Stage: XY-axis Lin...

              Kioto, Japón
            • 2009 HITACHI RS4000T

              2009 HITACHI RS4000T

              • Fabricante: Hitachi
              • Modelo: RS-4000

              Tamaño de la oblea: 12" | Envío: EXW

              Seúl, Corea del Sur
            • 1994 Hitachi S-5000

              1994 Hitachi S-5000

              • Fabricante: Hitachi
              • Modelo: S-5000

              Proceso: METROLOGÍA | Tamaño (mm): 200mm

              Yongin, Corea del Sur
            4647484950

            Resumen

            La metrología de semiconductores implica la medición y el análisis de obleas y dispositivos semiconductores. Esta categoría incluye herramientas y equipos utilizados para garantizar la precisión y exactitud de los procesos de fabricación de semiconductores. Estos instrumentos son vitales para el control de calidad, ayudando a detectar defectos y asegurando que los dispositivos cumplan con estrictos estándares industriales.

            FAQ (PREGUNTAS MÁS FRECUENTES)

            ¿Qué factores debo considerar al comprar equipos de metrología de semiconductores?

            Considere la precisión de medición, la resolución y la compatibilidad del equipo con sus procesos específicos de semiconductores. Evalúe los servicios de soporte del proveedor y la facilidad de integración del equipo en sus sistemas existentes.

            ¿Cómo puedo asegurar el envío seguro de equipos de metrología de semiconductores?

            Utilice un servicio de envío especializado con experiencia en el manejo de equipos sensibles y de alta precisión. Asegúrese de que el equipo esté bien embalado con amortiguación adecuada e instrucciones de manejo.

            ¿Cuál es el programa de mantenimiento para equipos de metrología de semiconductores?

            La calibración e inspección regular son esenciales. Siga las pautas del fabricante para el mantenimiento preventivo, incluida la limpieza de componentes ópticos y la verificación de actualizaciones de software. Mantenga un registro de todas las actividades de mantenimiento.