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Usado Jeol Metrología / Inspección (Semiconductores)

Vendedor de confianza
JEOL WS-50VB/8 Inspection Stage Chamber JWS-7555S Wafer Defect Review SEM Spare
- Fabricante: Jeol
Albuquerque, Nuevo México
Vendedor de confianza
Conjunto de Detector de Electrones JEOL JWS-7555S Revisión de Defectos de Oblea SEM Spare de Trabajo
- Fabricante: Jeol
Albuquerque, Nuevo México
JEOL JWS-7515
- Fabricante: Jeol
- Modelo: JWS-7515
Detalles: Insepción de obleas | Envío: El embalaje y el envío corren a cargo del comprador | Comentarios: JEOL JWS-7515 Inspección de obleas
Corea del Sur
JEOL JWS-7515
- Fabricante: Jeol
- Modelo: JWS-7515
Detalles: Inspección de obleas | Envío: El embalaje y el envío corren a cargo del comprador | Comentarios: JEOL JWS-7515 Inspección de obleas
Corea del Sur
JEOL JWS-7500E
- Fabricante: Jeol
- Modelo: JWS-7500E
Tamaño de la oblea: 8" | Proceso: SISTEMA DE INSPECCIÓN DE OBLEAS | Envío: EXW
Corea del Sur
JEOL EM-24015BU
- Fabricante: Jeol
Proceso: METROLOGÍA | Tamaño (mm): 200mm
Yongin, Corea del Sur