Usado Metrología / Inspección (Semiconductores)

2006 NANOMETRICS CALIPER-ULTRA

• usado

• Fabricante: Nanometrics

Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: Superposición | Envío: EXW

RUDOLPH Meta Pulse 200

• usado

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamaño de la oblea: 8" | Proceso: MEDICIÓN DEL ESPESOR DE LA PELÍCULA | Envío: EXW

KLA TENCOR P-15

• usado

• Fabricante: KLA-Tencor
• Modelo: P-15

HGTECH Serie de medición del espesor de obleas Equipo de medición del espesor de obleas de semiconductores

• nuevo

• Fabricante: Hgtech

Artículo: Parámetros principales | Parámetros generales: Tamaño de la oblea; 4" , 6" | Número de cajas: Doble piso, 14 piezas | Método de carga y descarga: Robot, escáner cartográfico | Plataforma de movimiento: ...