Usado Metrología / Inspección (Semiconductores)

2001 HITACHI S4700-I

• usado

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: S 4700

Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: Microscopio electrónico de barrido | Envío: EXW

RUDOLPH S3000A

• usado

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: S3000A

Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: Elipsometría láser de haz concentrado | Envío: EXW

LINDA IN5-HI

• usado

• Fabricante: LINDA

Tamaño de la oblea: * | Envío: EXW

RUDOLPH FE-3

• usado

• Fabricante: Rudolph

Tamaño de la oblea: 8" | Proceso: Elipsómetro de enfoque | Envío: EXW

2008 RAYTEX RXW-800

• usado

• Fabricante: RAYTEX

Tamaño de la oblea: 8" | Proceso: ESCÁNER DE BORDES | Envío: EXW

2000 RUDOLPH MP200

• usado

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: MP200

1998 RODOLPH Meta Pulse 200

• usado

• Fabricante: RODOLPH

Tamaño de la oblea: 8 | 3 tamaño de la oblea: 8" | Envío: EXW

2003 RUDOLPH Meta Pulse 300

• usado

• Fabricante: Rudolph

Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: Medición del espesor de la película

KLA_TENCOR PROMETRIX FT750

• usado

• Fabricante: KLA_TENCOR

Proceso: MEDICIÓN DEL ESPESOR DE LA PELÍCULA | Tamaño de la oblea: * | Envío: EXW

2006 NANOMETRICS CALIPER-ULTRA

• usado

• Fabricante: Nanometrics

Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: Superposición | Envío: EXW

RUDOLPH Meta Pulse 200

• usado

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamaño de la oblea: 8" | Proceso: MEDICIÓN DEL ESPESOR DE LA PELÍCULA | Envío: EXW

RUDOLPH Meta Pulse

• usado

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse

Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: Medición del espesor de la película | Envío: EXW

RUDOLPH Meta Pulse 300

• usado

• Fabricante: Rudolph

Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: Medición del espesor de la película | Envío: EXW

2005 RUDOLPH MP200

• usado

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: MP200

RUDOLPH Meta Pulse 3

• usado

• Fabricante: Rudolph

Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: Medición del espesor de la película | Envío: EXW