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Usado Valley Metrología / Inspección (Semiconductores)

  • 2011 Jordan valley semiconductors JVX6200I

    2011 Jordan valley semiconductors JVX6200I

    • Fabricante: Valley
    • Modelo: JVX6200I

    Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: Metrología de rayos X (Reflectividad de rayos X) | Envío: EXW

    Corea del Sur