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Usado Rudolph WS3840 Metrología / Inspección (Semiconductores)

  • 2010 RUDOLPH WS3840

    2010 RUDOLPH WS3840

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: WS3840

    Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: Metrología de protuberancias en 3D | Envío: EXW

    Corea del Sur