Equipos de semiconductores » Metrología / Inspección (semiconductores) » Rudolph » S3000

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Termina Sep 23rd, 12:00 CDT
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Usado Rudolph S3000 Metrología / Inspección (Semiconductores)

  • 2010 RUDOLPH S3000A

    2010 RUDOLPH S3000A

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: S3000A

    Tamaño de la oblea: 12 | Envío: EXW | Proceso: Elipsometría láser de haz concentrado

    Corea del Sur
  • 2012 RUDOLPH S3000A

    2012 RUDOLPH S3000A

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: S3000A

    Tamaño de la oblea: 8" | Proceso: Elipsometría láser de haz concentrado | Cámara: EXW

    Corea del Sur
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