Equipos de semiconductores » Prueba y medición

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Usado Prueba Y Medición

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    MV-7XI

    • Fabricante: Mirtec

    Shenzhen, China
  • Parts Inspection and Sorting Machine

    Parts Inspection and Sorting Machine EKT-VT-561D & 561T

      Detection ability: Applicable process; Rapid testing and measurement of large quantities of small parts and classification of test resultsSuitable for detecting battery cap and BGA.; Rapid testing and measurement...

      Shenzhen, China
    • Vendedor de confianza
      XB8200 Máquina de inspección por

      XB8200 Máquina de inspección por rayos X de baterías

        Tipo de tubo: Fuente de rayos X de microfocalización sellada y reflectante | Tensión: 90 KV | Rango de tensión de funcionamiento: 40-90KV | Rango de corriente de funcionamiento: 10-200 μA | Potencia máxima de sal...

        Shenzhen, China
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        CHIPBEST NC-400E splicing table

        • Fabricante: CHIPBEST

        Shanghái, China
      • Vendedor de confianza
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        SONY XC-ES30

        • Fabricante: Sony
        • Modelo: XC-ES30

        Toda, Japón
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        Wafer-Level Inspection

          Tipo de paquete: oblea desnuda (6", 8", 12") | Opciones de entrada/salida: FOUP/FOSB, Abierto cassette,cassette de metal | Cámara de alta resolución en color: cámara de exploración de área en color | Objetivo 1x...

          Penang, Malasia
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          Post Dicing Vision Inspection

            Opciones de entrada: Bandeja de gel, extracción desde la mesa de sierra del desbaste | Opciones de salida: Bandeja JEDEC, canister Bins, cinta y carrete (opcional), tubo de gravedad (opcional) | Tipo de paquete: ...

            Penang, Malasia
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            Wafer-Level Burn-in

              Cantidad de chuck: Octa Chuck | Tipo de paquete: Dispositivo de potencia de carburo de silicio (SiC) | Tamaño de la oblea: 6, 8 pulgadas | Opción de entrada/salida: Cassetta de obleas (Hasta 2 cassettes) | Die po...

              Penang, Malasia
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              Discrete-Level Test

                Opciones de entrada: Cornete Vibrador, Clasificador de Tubos Plásticos | Opciones de salida: Tape & Reel, Clasificador de Tubos Plásticos | Capacidades de prueba: Prueba eléctrica funcional, prueba de continuidad...

                Penang, Malasia
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                Turret Test & Vision

                  Opciones de entrada: Cucharón vibrador | Opciones de salida: Cinta y carrete | Selección de paquetes: DFN discreto, QFN | Capacidades de visión: Inspección de marcas, inspección de juntas, inspección de paquete, ...

                  Penang, Malasia
                • Tektronix 172

                  Tektronix 172

                  • Fabricante: Tektronix
                  • Modelo: 172

                  Las pruebas incluyen la medición de hfe, vce, iceo, ices, icer, icbo, iebo y para jfets: Vp, Idss, Rds, Igss y BVgss. | Tipo de instrumento: Fixture de Prueba Programable | Utilizado con: Curve Tracer 576

                  Webster, Massachusetts
                • Tektronix 577D2

                  Tektronix 577D2

                  • Fabricante: Tektronix
                  • Modelo: 577-D2

                  Rango de voltaje: 6.5V a 1600V | Corriente de pico: 10A a 0.04A | Pulsación de corriente pico: 20A a 0.08A | Resolución mínima de la serie: 0.12 a 8Kohm | Resolución máxima de la serie: 8Kohm a 8Mohm

                  Webster, Massachusetts
                • Tektronix 370

                  Tektronix 370

                  • Fabricante: Tektronix
                  • Modelo: 370

                  Mide y muestra las características de semiconductores de una variedad de dispositivos de 2, 3 y 4 terminales: incluyen diodos, transistores bipolares, FETs, SCR, tiristores, optoaisladores y circuitos integrados....

                  Webster, Massachusetts
                • Tektronix 370B

                  Tektronix 370B

                  • Fabricante: Tektronix
                  • Modelo: 370B

                  Webster, Massachusetts
                • Tektronix 177

                  Tektronix 177

                  • Fabricante: Tektronix
                  • Modelo: 177

                  Selector de terminal de generación de pasos del accesorio de prueba 177: Aplica la salida del generador de pasos a las conexiones de base del accesorio de prueba | Accesorio de prueba 177 abierto (o ext): Descone...

                  Webster, Massachusetts
                3536373839

                Resumen

                Los equipos de inspección y prueba de semiconductores son máquinas especializadas que se utilizan para garantizar la calidad y funcionalidad de los dispositivos semiconductores. Estas máquinas realizan diversas pruebas e inspecciones, incluida la inspección visual, pruebas eléctricas y análisis de defectos, para identificar y abordar cualquier problema en el proceso de fabricación de semiconductores. Son cruciales para mantener los altos estándares requeridos en la industria de semiconductores.

                FAQ (PREGUNTAS MÁS FRECUENTES)

                ¿Qué factores debo considerar al comprar equipos de inspección y prueba de semiconductores?

                Considere la compatibilidad del equipo con sus sistemas existentes, los tipos de pruebas que realiza, su precisión y las opciones de soporte y servicio del fabricante. También evalúe su estado general y cualquier software o accesorio incluido.

                ¿Cómo puedo asegurarme de que el equipo de inspección y prueba de semiconductores se envíe de manera segura?

                Utilice un servicio de transporte especializado con experiencia en el manejo de equipos delicados y de alto valor. Asegúrese de que el equipo esté adecuadamente empaquetado, asegurado y asegurado durante el transporte.

                ¿Qué mantenimiento requieren los equipos de inspección y prueba de semiconductores?

                El mantenimiento regular incluye limpieza, calibración y actualizaciones de software. Siga las pautas del fabricante para intervalos de mantenimiento específicos y procedimientos para garantizar el rendimiento óptimo y la longevidad del equipo.