Usado Metrología / Inspección (Semiconductores) en Corea del Sur

ONTO WV320

• usado

• Fabricante: Onto

Tamaño de la oblea: 12" | Envío: EXW

HITACHI S4700-II

• usado

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: S 4700

Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: FESEM con Horriba EMAX EDX | Envío: EXW

PUDOLPH Meta Pluse3

• usado

• Fabricante: PUDOLPH

Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: Medición del espesor de la película | Envío: EXW

2005 NANOMETRICS CALIPER_ELAN

• usado

• Fabricante: Nanometrics

Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: OVERLAY | Envío: EXW

2003 HITACHI RS 4000

• usado

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: RS 4000

Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: Revisión de defectos Sem | Envío: EXW

1999 NEC NEC SL-473F

• usado

• Fabricante: NEC
• Modelo: SL-473F

Proceso: MARCADOR DE OBLEAS SI | Tamaño de la oblea: * | Envío: EXW

2003 HITACHI RS4000

• usado

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: RS 4000

Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: Revisión de defectos Sem | Envío: EXW

THERMO FISHER ECO 1000

• usado

• Fabricante: Thermo Fisher Scientific
• Modelo: ECO 1000

Proceso: SISTEMA FTIR | Tamaño de la oblea: * | Envío: EXW

RUDOLPH Meta Pulse

• usado

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse

Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: Medición del espesor de la película | Envío: EXW

RUDOLPH Meta Pulse 300

• usado

• Fabricante: Rudolph

Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: Medición del espesor de la película | Envío: EXW

2005 RUDOLPH MP200

• usado

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: MP200

RUDOLPH Meta Pulse 3

• usado

• Fabricante: Rudolph

Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: Medición del espesor de la película | Envío: EXW

RUDOLPH Meta Pulse 300

• usado

• Fabricante: Rudolph

Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: MEDICIÓN DEL ESPESOR DEL METAL | Envío: EXW

KLA_TENCOR PROMETRIX FT750

• usado

• Fabricante: KLA_TENCOR

Proceso: MEDICIÓN DEL ESPESOR DE LA PELÍCULA | Tamaño de la oblea: * | Envío: EXW

2000 RUDOLPH MP200

• usado

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: MP200