Usado Metrología / Inspección (Semiconductores) en Corea del Sur

2005 Rudolph Metapulse 200

• usado

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamaño de la oblea: 8" | Proceso: MET | Envío: EXW

2008 Rudolph Metapulse Metapulse II 200X CU

• usado

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamaño de la oblea: 8" | Proceso: MET | Envío: EXW

HITACHI FB 2100

• usado

• Fabricante: Hitachi

2003 Rudolph Metapulse 200X cu

• usado

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamaño de la oblea: 8" | Proceso: MET | Envío: EXW

1996 BROOKS METARA 7200

• usado

• Fabricante: Brooks

Tamaño de la oblea: 8" | Proceso: OVERAY | Envío: EXW

KLA-TENCOR P 12

• usado

• Fabricante: KLA-Tencor
• Modelo: P-12

2013 HITACHI RS6000

• usado

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: RS 6000

Envío: EXW

1991 NIKON 3

• usado

• Fabricante: Nikon

Tamaño de la oblea: 5" | Proceso: ESTACIÓN OPTI

2010 RUDOLPH S3000A

• usado

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: S3000A

Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: Elipsometría láser de haz concentrado | Envío: EXW

RUDOLPH WV320 MACRO

• usado

• Fabricante: Rudolph

Tamaño de la oblea: 8" | Envío: EXW

2006 KLA CI T1X0

• usado

• Fabricante: KLA-Tencor

Envío: EXW

1990 KLA SFS7200

• usado

• Fabricante: KLA-Tencor
• Modelo: SFS7200

Tamaño de la oblea: 8" | Proceso: Metrología | Envío: EXW

1991 KLA SFS7200

• usado

• Fabricante: KLA-Tencor
• Modelo: SFS7200

Tamaño de la oblea: 8" | Proceso: Metrología | Envío: EXW

2005 VISTEC LWM9000

• usado

• Fabricante: Vistec

Tamaño de la oblea: 6" | Envío: EXW

2010 HITACHI LS9000

• usado

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: LS9000

Envío: EXW