Usado Leica Metrología / Inspección (Semiconductores) en Corea del Sur

Leica INM 20

• Fabricante: Leica
• Modelo: INM 20

Aplicación: Inspección visual y medición CD, OD, Pitch.. | ▲ piezas oculares: X10 | ▲ lente: X2.5, X5, X10, X50, X100 | ▲ tamaño de trabajo: 150 x 150 mm | ▲ etapa de medición (x,y): Min 0.1 micra ~ | ▲ vintage: ...