Usado systeme

JEOL JSM-6300F Ion Vacuum Pump Magnet Assembly Wafer Defect Review SEM Working

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JSM

System/tool: JEOL JSM-6300F SEM Scanning Electron Microscope System | Mpn: Ensamblaje de Imán de Bomba de Vacío de Iones | Número de pieza: Ensamblaje de Imán de Bomba de Vacío de Iones

Anelva 912-7165 Bomba de ultravioleta de alto vacío Ion Ultra High Vacuum Pump JEOL JSM-6300F SEM de trabajo sobrante

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JSM

Mpn: 912-7165 | System/tool: Sistema de microscopio electrónico de barrido JEOL JSM-6300F SEM | Número de pieza: 912-7165

JEOL JSM-6300F SEM Ensamble de Columna Microscopio Electrónico de Barrido de Trabajo Excedente

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JSM

System/tool: JEOL JSM-6300F SEM Scanning Electron Microscope System | Mpn: Columna JSM-6300F

JEOL EM-07130 Microscope Controller fasTEM Panel TEM JEM-2010F Working

• Fabricante: Jeol

Mpn: EM-07130 | System/tool: TEM de transmisión de JEOL JEM-2010F | Número de pieza: EM-07130

JEOL EM-24015BU TEM Microscopio Electrónico de Barrido Ensamblaje de Lentes Ópticas JEM-2010F Usado

• Fabricante: Jeol

System/tool: TEM de transmisión de JEOL JEM-2010F | Mpn: EM-24015BU | Número de pieza: EM-24015BU | Aceptamos: PayPal, todas las tarjetas de crédito principales y transferencias bancarias en USD (hay una tarifa d...

JEOL Microscopio Binocular 10x Ensamblaje JEM-2010F Sistema de Microscopía TEM Usado

• Fabricante: Jeol

System/tool: TEM de transmisión de JEOL JEM-2010F | Mpn: Microscopio Binocular 10x | Número de pieza: Microscopio Binocular 10x | Aceptamos: PayPal, todas las tarjetas de crédito principales y transferencias banc...

JEOL JEM-2100F Microscopio Electrónico de Transmisión Sistema (2009) TEM Laboratorio

• Fabricante: Jeol