Usado Metrología / Inspección (Semiconductores) en Gyeonggi, Corea del Sur

1996 HITACHI S-4160

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: S-4160

Tamaño (mm): 200mm

2003 KLA, AFS-3220, Medición de planitud

• Fabricante: KLA-Tencor

Número de serie: N/A | Cantidad: 1 | Detalle del equipo: Medición de la planitud | Equipo: Medición de la planitud | Descripción: Oblea 300mm, Espesor de escaneado: precisión 0,25um

2005 KLA, AFS-3220, Medición de planitud

• Fabricante: KLA-Tencor

Número de serie: AMS101 | Cantidad: 1 | Detalle del equipo: Medición de la planitud | Equipo: Medición de la planitud | Descripción: Oblea 300mm, Espesor de escaneado: precisión 0,25um

2003 KLA, SP3, CONTADOR DE PARTÍCULAS

• Fabricante: KLA-Tencor
• Modelo: SP3

Número de serie: 45120310476 | Cantidad: 1 | Detalle del equipo: CONTADOR DE PARTÍCULAS | Equipo: CONTADOR DE PARTÍCULAS | Descripción: Oblea 450 mm

2014 Veeco, Dektak6M, Alpha Step

• Fabricante: Veeco - Sloan
• Modelo: Dektak

Número de serie: 24278 | Cantidad: 1 | Detalle del equipo: Paso Alfa | Equipo: Paso Alfa | Descripción: N/A

KLA TENCOR, P-15, Perfilador de superficie (windows NT)

• Fabricante: KLA-Tencor
• Modelo: P-15

Número de serie: 0704120887 | Cantidad: 1 | Detalle del equipo: Surface Profiler (windows NT) | Equipo: Perfilador de superficie | Descripción: Windows NT

KLA_TENCOR CI T1X0

• Fabricante: KLA_TENCOR

Proceso: CI T1X0 REV.2 | Envío: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• Fabricante: KLA_TENCOR

Proceso: CI T1X0 | Envío: EXW

METROLOGY Q230

• Fabricante: METROLOGY

Tamaño de la oblea: 8"

METROLOGY P2

• Fabricante: METROLOGY

2006 NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• Fabricante: Nanometrics

Tamaño de la oblea: 12" | Envío: EXW

AMAT SEMVision

• Fabricante: Amat
• Modelo: Semvision

Tamaño de la oblea: 12" | Envío: EXW

KLA P20H

• Fabricante: KLA-Tencor
• Modelo: P20H

Tamaño de la oblea: 3

HITACHI S 5000

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: S-5000

HITACHI S 5000

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: S-5000