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Usado Metrología / Inspección (Semiconductores) en Corea del Sur

  • RUDOLPH Meta Pulse 3

    RUDOLPH Meta Pulse 3

    • Fabricante: Rudolph

    Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: Medición del espesor de la película | Envío: EXW

    Corea del Sur
  • RUDOLPH Meta Pulse 300

    RUDOLPH Meta Pulse 300

    • Fabricante: Rudolph

    Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: MEDICIÓN DEL ESPESOR DEL METAL | Envío: EXW

    Corea del Sur
  • KLA_TENCOR PROMETRIX FT750

    KLA_TENCOR PROMETRIX FT750

    • Fabricante: KLA_TENCOR

    Proceso: MEDICIÓN DEL ESPESOR DE LA PELÍCULA | Tamaño de la oblea: * | Envío: EXW

    Corea del Sur
  • KLA TENCOR P-15

    KLA TENCOR P-15

    • Fabricante: KLA-Tencor
    • Modelo: P-15

    Corea del Sur
  • HSEB AXIOSPECT 300

    HSEB AXIOSPECT 300

    • Fabricante: HSEB
    • Modelo: AXIOSPECT 300

    Envío: EXW

    Corea del Sur
  • 2008 RUDOLPH NSK 105

    2008 RUDOLPH NSK 105

    • Fabricante: Rudolph

    Envío: EXW

    Corea del Sur
  • 2014 Lasertec BGM300

    2014 Lasertec BGM300

    • Fabricante: Lasertec

    Tamaño de la oblea: 12 | Envío: EXW

    Corea del Sur
  • 2000 RUDOLPH METAPULSE200

    2000 RUDOLPH METAPULSE200

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: Metapulse 200

    Tamaño de la oblea: 8" | Proceso: MET | Envío: EXW

    Corea del Sur
  • 2001 Rudolph Metapulse 200X CU

    2001 Rudolph Metapulse 200X CU

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: Metapulse 200

    Tamaño de la oblea: 8" | Proceso: MET | Envío: EXW

    Corea del Sur
  • 2005 Rudolph Metapulse 200

    2005 Rudolph Metapulse 200

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: Metapulse 200

    Tamaño de la oblea: 8" | Proceso: MET | Envío: EXW

    Corea del Sur
  • 2008 Rudolph Metapulse Metapulse II

    2008 Rudolph Metapulse Metapulse II 200X CU

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: Metapulse 200

    Tamaño de la oblea: 8" | Proceso: MET | Envío: EXW

    Corea del Sur
  • 2004 RUDOLPH METAPULSE200

    2004 RUDOLPH METAPULSE200

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: Metapulse 200

    Tamaño de la oblea: 8" | Proceso: MET | Envío: EXW

    Corea del Sur
  • 2003 Rudolph Metapulse 200X cu

    2003 Rudolph Metapulse 200X cu

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: Metapulse 200

    Tamaño de la oblea: 8" | Proceso: MET | Envío: EXW

    Corea del Sur
  • no-image_es.png

    ULTRACISION 880E

    • Fabricante: ULTRACISION

    Proceso: METROLOGÍA | Tamaño (mm): 200mm

    Yongin, Corea del Sur
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    ULTRACISION 880E

    • Fabricante: ULTRACISION

    Proceso: METROLOGÍA | Tamaño (mm): 200mm

    Yongin, Corea del Sur
89101112

Resumen

La metrología de semiconductores implica la medición y el análisis de obleas y dispositivos semiconductores. Esta categoría incluye herramientas y equipos utilizados para garantizar la precisión y exactitud de los procesos de fabricación de semiconductores. Estos instrumentos son vitales para el control de calidad, ayudando a detectar defectos y asegurando que los dispositivos cumplan con estrictos estándares industriales.

FAQ (PREGUNTAS MÁS FRECUENTES)

¿Qué factores debo considerar al comprar equipos de metrología de semiconductores?

Considere la precisión de medición, la resolución y la compatibilidad del equipo con sus procesos específicos de semiconductores. Evalúe los servicios de soporte del proveedor y la facilidad de integración del equipo en sus sistemas existentes.

¿Cómo puedo asegurar el envío seguro de equipos de metrología de semiconductores?

Utilice un servicio de envío especializado con experiencia en el manejo de equipos sensibles y de alta precisión. Asegúrese de que el equipo esté bien embalado con amortiguación adecuada e instrucciones de manejo.

¿Cuál es el programa de mantenimiento para equipos de metrología de semiconductores?

La calibración e inspección regular son esenciales. Siga las pautas del fabricante para el mantenimiento preventivo, incluida la limpieza de componentes ópticos y la verificación de actualizaciones de software. Mantenga un registro de todas las actividades de mantenimiento.