Usado Microscopios en Corea del Sur

2016 COXEM, CX-200, SEM (microscopio electrónico de barrido)

• Fabricante: COXEM

Número de serie: CXS-7TMH-116024 | Cantidad: 1 | Detalle del equipo: Microscopio electrónico de barrido | Equipo: Microscopio electrónico de barrido

2006 PSIA INC, XE-120, microscopio de sonda de barrido

• Fabricante: PSIA INC

Número de serie: BC77600019 | Cantidad: 1 | Detalle del equipo: Microscopio de sonda de barrido | Equipo: Microscopio de sonda de barrido | Descripción: Alcance de exploración 90x90㎛, 230V, 50/60Hz, 5A

2010 Park Systems, XE-150, AFM (Microscopio de Fuerza Atómica)

• Fabricante: Park Systems

Número de serie: N/A | Cantidad: 1 | Detalle del equipo: AFM (Microscopio de fuerza atómica) | Equipo: AFM (Microscopio de fuerza atómica)

LEICA MZ6

• Fabricante: Leica
• Modelo: MZ6

Proceso: METROLOGÍA | Tamaño (mm): 200mm

LEICA LEICA INM20

• Fabricante: Leica
• Modelo: INM20

KEYENCE KEYENCE VH-8000

• Fabricante: Keyence
• Modelo: VH-8000

Olympus AL110-LMB12

• Fabricante: Olympus

Keyence VH-8000

• Fabricante: Keyence
• Modelo: VH-8000

Leica INM20

• Fabricante: Leica
• Modelo: INM20

Olympus MX50L-RF

• Fabricante: Olympus
• Modelo: MX50

Olympus

• Fabricante: Olympus

P/n: SZ61

OLYMPUS OLS-3000(LEXT)

• Fabricante: Olympus
• Modelo: OLS

1999 JEOL JSM-5600

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JSM

Detalles: CD SEM | Envío: El embalaje y el envío corren a cargo del comprador | Comentarios: JEOL JSM-5600 CD SEM

JEOL JSM-6700F

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JSM

Detalles: FE SEM | Envío: El embalaje y el envío corren a cargo del comprador | Comentarios: JEOL JSM-6700F FE SEM

Olympus IX71

• Fabricante: Olympus
• Modelo: IX71