Usado en Nagano, Japón

ANALOG MΩ HiTESTER IR4018

• Fabricante: HIOKI E.E

Voltaje de salida nominal: 1000 V CC | Valor máximo indicado efectivo: 2000 MΩ | Precisión 1er rango efectivo de medición: ±2 % de la longitud de la escala, 2 M a 1000 MΩ | Resistencia de límite inferior: 1 MΩ (v...

ANALOG MΩ HiTESTER IR4016

• Fabricante: HIOKI E.E

Voltaje de salida nominal: 500 V DC | Valor máximo indicado efectivo: 100 MΩ | Precisión 1er rango efectivo de medición: ±2 % de la longitud de la escala, 0.1 M a 50 MΩ | Resistencia de límite inferior: 0.5 MΩ (v...

ANALOG MΩ HiTESTER IR4017

• Fabricante: HIOKI E.E

Voltaje de salida nominal: 500 V DC | Valor máximo indicado efectivo: 1000 MΩ | Precisión 1er rango efectivo de medición: ±2 % de la longitud de la escala, 1 M a 500 MΩ | Resistencia de límite inferior: 0.5 MΩ (v...

LUX METER FT3424

Standards: DIN 5032-7: 1985 class B, JIS C 1609-1: 2006 general AA class | Light receiving element: Silicon photo diode | Range selection: Auto/ Manual | Linearity: ±2% rdg. (Multiply by 1.5 for display values i...

LUX METER FT3425

Standards: DIN 5032-7: 1985 class B, JIS C 1609-1: 2006 general AA class | Light receiving element: Silicon photo diode | Range selection: Auto/ Manual | Linearity: ±2% rdg. (Multiply by 1.5 for display values i...

Concepto ATE: El poder de conectar

• Fabricante: HIOKI E.E

IN-CIRCUIT TESTER FA1220-02

• Fabricante: HIOKI E.E

Number of test points: Standard: 0 pins (scanner boards optional) Max. 2048 pins (expandable in blocks of 128 pins)* * The maximum number of active pins for each test type depends on the total number of scanner b...

IN-CIRCUIT TESTER FA1220

• Fabricante: HIOKI E.E

Número de puntos de prueba: Máx. 1024 pines (se pueden añadir en bloques de 128 pines) Estándar: 0 pines (las tarjetas de escáner se venden como opciones) | Número de pasos de la prueba: Datos de reparto circular...

PROBADOR DE FALLAS CORTAS ABERTURAS FA1221

• Fabricante: HIOKI E.E

Número de puntos de prueba: 128 pines (durante medición de 4 terminales, hasta 32 conjuntos) | Número de pasos de la prueba: Round-robin corto/abierto : 128 pines Datos de componente : Máx. 10000 pasos Datos de c...

FLYING PROBE TESTER FA1240-6x

• Fabricante: HIOKI E.E

Número de brazos: 4 (L, ML, MR, R) | Número de pasos de la prueba: 40.000 (máx.) | Rangos de medición: Resistencia: 400 μΩ a 40 MΩ Capacitancia: 1 pF a 400 mF Inductancia: 1 μH a 100 H Medición de VZ de diodo: 0 ...

SOFTWARE DE ANALÍTICA DE DATOS UA1801

Contenido de la licencia: Solo clave de licencia (USB) *Nota: Adquiera por separado el equipo de ordenador, monitor y otro hardware, y descargue el instalador y la documentación desde el sitio web de Hioki. | Equ...

SISTEMA DE CREACIÓN DE DATOS DE INSPECCIÓN FEB-LINE UA1781

Contenido de la licencia: Instalar CD, clave de licencia (USB), manual de instrucciones *Nota: Por favor, adquiera hardware como PC y monitor por separado. | Sistema operativo compatible: Windows 10 Pro 64 bits, ...

SISTEMA DE CREACIÓN DE DATOS DE INSPECCIÓN FIT-LINE UA1780

Incluye: CD de instalación, licencia (USB), manual de instrucciones (× 1 cada uno) *Precaución: el ordenador, monitor y otros equipos no están incluidos. | Funciones de entrada de datos gerber: Carga de archivos ...

IN-CIRCUIT TESTER FA1220-11

• Fabricante: HIOKI E.E

Number of test points: Standard: 0 pins (scanner boards optional) Max. 2048 pins (expandable in blocks of 128 pins)* * The maximum number of active pins for each test type depends on the total number of scanner b...

VISUALIZADOR DE FALLAS UA1782

Contenido de la licencia: Instalar CD, clave de licencia (USB), manual de instrucciones *Nota: Por favor, adquiera hardware como PC y monitor por separado. | Importación de base de datos: Cargar bases de datos UA...