HGTECH Serie de detección de defectos Equipo de detección de defectos en sustratos de semiconductores
nuevo
- Fabricante: Hgtech
Artículo: Parámetros principales | Parámetros generales: Tamaño de oblea; Estándar 4", 6" (ampliable 4"- 8") | Número de cajas: Doble piso, 14 piezas | Método de carga y descarga: Robot, escáner cartográfico | Pl...
Wuhan, China
Serie de detección de defectos en obleas HGTECH Equipo de detección de defectos en obleas de semiconductores
nuevo
- Fabricante: Hgtech
Artículo: Parámetros principales | Parámetros generales: Tamaño de la oblea; 4", 6" (marco de hierro con película azul) | Número de cajas: 2 unidades | Método de carga y descarga: Robot, escáner cartográfico | Pl...
Wuhan, China
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