Usado semoir

Cleveland Twist Drill C39811 1-1/4 x 3/4 HSS SEM Center Cut End Mill

Talla: 3.75" x 1.25" x 1.25"

Hitachi SEM Cuadro de Distribución de Energía S-9380 Usado Funciona

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: S-9380

Ci: 2 | System/tool: Hitachi S-9380 SEM | Sistema: Hitachi S-9380 SEM | Sub-conjunto: Cuerpo principal | Aceptamos: PayPal, todas las tarjetas de crédito principales y transferencias bancarias en USD (hay una tar...

Galileo Electro-Óptica SEM-6484-PWR PS Card 2390 JEOL JSM-6300/6400F Funcionando

• Fabricante: Jeol

Mpn: SEM-6484-PWR | Número de pieza: SEM-6484-PWR

JEOL JSM-6400F SIP Control SIP/BAKEOUT Power Supply Wafer Defect SEM Working

• Fabricante: Jeol

Mpn: SIP CONTROL | System/tool: Sistema de Microscopio Electrónico de Barrido JEOL JSM-6400F SEM | Número de pieza: SIP CONTROL

FEI Company 4022.192.91343 Tarjeta PCB de Procesador DDCB XL 830 DualBeam FIB-SEM Usada

• Fabricante: FEI

Mpn: 4022.192.91343 | System/tool: FEI Company XL 830 DualBeam FIB-SEM Microscopio enfocado de haz de iones | Número de pieza: 4022.192.91343

FEI Company 4022.192.70141 Tarjeta de PCB de Procesador MDAC XL 830 DualBeam FIB-SEM Usada

• Fabricante: FEI

Mpn: 4022.192.70141 | System/tool: FEI Company XL 830 DualBeam FIB-SEM Microscopio enfocado de haz de iones | Número de pieza: 4022.192.70141

FEI Company 4022.192.70094 Tarjeta de PCB de Procesador HRDS 7009 XL 830 FIB-SEM Usada

• Fabricante: FEI

Mpn: 4022.192.70094 | System/tool: FEI Company XL 830 DualBeam FIB-SEM Microscopio enfocado de haz de iones | Número de pieza: 4022.192.70094 | Eprom: 4022.197.29622, CS-BIAO

JEOL JSM-6300F Ion Vacuum Pump Magnet Assembly Wafer Defect Review SEM Working

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JSM

System/tool: JEOL JSM-6300F SEM Scanning Electron Microscope System | Mpn: Ensamblaje de Imán de Bomba de Vacío de Iones | Número de pieza: Ensamblaje de Imán de Bomba de Vacío de Iones

JEOL BP101760-00 Collector PB PCB Card JWS-2000 Wafer Defect Review SEM Working

• Fabricante: Jeol

Mpn: BP101760-00 | System/tool: JEOL JWS-2000 Wafer Defect Review SEM | Número de pieza: BP101760-00

LADD SPUTTER COATER PARA PREPARACIÓN DE M MUE? SEM, WELCH 1400 DUO SEAL DOS Medical & Lab Equipment

• Fabricante: Welch

Mpn: 30800

Totuku CCL182/r 18” Color Autoscan Display CDL1808A Hitachi S-9380 SEM Used

• Fabricante: Hitachi

Ci: 2 | País/región de fabricación: Taiwán | System//tool: Hitachi S-9380 SEM | Mpn: CCL182/r | Buscado: Manual de piezas de Nikon, se pagarán $1,000. | Número de pieza: CCL182/r | Sistema: Hitachi S-9380 SEM Mic...

Totuku CDL1806A/R 18” Pantalla Autoscan CDL1806A Hitachi S-9380 SEM Usada Funcionando

• Fabricante: Hitachi

Ci: 2 | País/región de fabricación: Taiwán | System//tool: Hitachi S-9380 SEM | Mpn: CDL1806A/R | Buscado: Manual de piezas de Nikon, se pagarán $1,000. | Número de pieza: CDL1806A/R | Sistema: Hitachi S-9380 SEM...