Usado semoir

TABLILLA DE BACKPLANE EBRAINS 650-VME12T PCB 650-VJ212 JEOL JWS-2000 SEM Repuesto de Trabajo

• Fabricante: Jeol

Mpn: 650-VME12T | System/tool: JEOL JWS-2000 Wafer Defect Review SEM | Número de pieza: 650-VME12T | Pieza de placa hija n.º: 650-TB01

JEOL BP102044-00 DFC CONT(1) PB PCB Tarjeta JWS-2000 Revisión de Ingotos? Wafer Revisión SEM Trabajo Repuesto

• Fabricante: Jeol

Mpn: BP102044-00 | System/tool: JEOL JWS-2000 Wafer Defect Review SEM | Número de pieza: BP102044-00

JEOL BP101520-01 Driver PCB Card CL2 ACL CONT PB JWS-7555S SEM Working Spare

• Fabricante: Jeol

Mpn: BP101520-01 | System/tool: JEOL JWS-7555S Wafer Defect Review SEM | Número de pieza: BP101520-01

Microscopio electrónico de barrido Hitachi S-4800 con Oxford Ultim Max 40 EDS SEM Laboratorio

• Fabricante: Hitachi
• Modelo: S-4800

2016 SEM SEM919

• Fabricante: SEM
• Potencia (hp): 188 CV
• Horas: 3,466 h

Horas de uso: 3,466 hrs | Capacidad funcional: 4,627 mm (14 Pies) de hoja | Motor: SDEC | Peso operacional: 17,440 KG | Capacidad tanque combustible: 320 L | Potencia del motor: 140 kw / 188 hp | Transmisión: HAN...

Detector de electrones secundarios JEOL JWS-2000 Revisión de defectos de obleas SEM en funcionamiento

• Fabricante: Jeol

Mpn: Detector de electrones secundarios | Número de pieza: Detector de electrones secundarios

JEOL Column Mechanical Lens Assembly JWS-2000 Wafer Defect Review SEM Working

• Fabricante: Jeol

Mpn: Columna Ensamblaje de Lentes Mecánicas | Número de pieza: Columna Ensamblaje de Lentes Mecánicas

JEOL Inspección de la Cámara de Estación de Prueba JWS-2000 Revisión de Defectos de Oblea SEM de Trabajo

• Fabricante: Jeol

Mpn: Cámara de Estación de Inspección | Número de pieza: Cámara de Estación de Inspección | Pieza electrónica de copal numero de parte: PS83-102V | Keyence part no: FS-V31 | Número de parte de koganei: JDAS12x5-7...

JEOL BP101823-00 Beam BLK PCB Assembly TEM SEM Spare Surplus

• Fabricante: Jeol

Mpn: BP101823-00 | Número de pieza: BP101823-00

JEOL WS-54010 Ensamblaje de paso de cable de columna JWS-7555S SEM excedente operativo

• Fabricante: Jeol

Mpn: WS-54010 | Número de pieza: WS-54010

JEOL Column Mechanical Lens Assembly JWS-7555S Wafer Defect Review SEM Working

• Fabricante: Jeol

Mpn: Ensayo de Lente Mecánica | Número de pieza: Ensayo de Lente Mecánica

VG Scientific A116-70-4 Microscopio Electrónico de Barrido SEM Sensor Óptico En funcionamiento

• Fabricante: VG Scientific

Mpn: A116-70-4 | Número de pieza: A116-70-4

JEOL Column Pneumatic Sample Gate JWS-7555S Wafer Defect Review SEM Working

• Fabricante: Jeol

Mpn: Puerta de muestreo neumática | Número de pieza: Puerta de muestreo neumática

JEOL Cargador de wafers Robot de transporte Ensamblaje JWS-2000 Laboratorio de defectos de obleas SEM en funcionamiento

• Fabricante: Jeol

Mpn: Conjunto de transporte | Número de pieza: Conjunto de transporte de cargador de obleas | Pieza electrónica de copal numero de parte: PS40-102V-NAM | Número de parte de koganei: 030E1-PSL | Número de pieza or...

KLA-Tencor 18-007478 Detector de Láser 8100 XP Sistema CD-SEM en funcionamiento excedente

• Fabricante: KLA-Tencor

Mpn: 18-007478 | Número de pieza: 18-007478