Usado scanning electron microscope

JEOL BP102021-00 Driver PCB Card CLAL DRVR2 PB JWS-7555S SEM Working Spare

• Fabricante: Jeol

Mpn: BP102021-00 | System/tool: JEOL JWS-7555S Wafer Defect Review SEM | Número de pieza: BP102021-00

JEOL BP102047-00 EXT SCAN PB PCB Card JWS-2000 SEM Wafer Detect Working Spare

• Fabricante: Jeol

Mpn: BP102047-00 | System/tool: JEOL JWS-2000 Wafer Defect Review SEM | Número de pieza: BP102047-00

JEOL SED 10kV CCT Power Supply Drive Assembly BP102075-00 JWS-2000 SEM Funcionando

• Fabricante: Jeol

Mpn: SED 10kV CCT | Número de pieza: SED 10kV CCT

Conjunto de cables de alta tensión para cañón de iones Ulvac Technologies HV, 2 unidades, funcionamiento SEM JWS-2000

• Fabricante: Ulvac

Mpn: Conjunto de cables de cañón de iones HV | Número de pieza: Conjunto de cables de cañón de iones HV

JEOL JSM-6400F SIP Control SIP/BAKEOUT Power Supply Wafer Defect SEM Working

• Fabricante: Jeol

Mpn: SIP CONTROL | System/tool: Sistema de Microscopio Electrónico de Barrido JEOL JSM-6400F SEM | Número de pieza: SIP CONTROL

FEI 9432 052 50001 E.M. Filamentos 4022 198 30741 Reventa Lote de 8 XL 30 Nuevo

• Fabricante: FEI

Mpn: 9432 052 50001 | System/tool: Sistema FEI Company XL 30 Field Emission ESEM | Número de pieza: 9432 052 50001

JEOL CLAMP CONT CCT Controller PCB Assembly BP101959-00 JWS-7555S SEM funcionando

• Fabricante: Jeol

Mpn: CLAMP CONT CCT | Número de pieza: CLAMP CONT CCT

JEOL PART FROM JSM 5900 LV SCANNING ELECTRON MICROSCOPE T235602

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JSM

JEOL PART FROM JSM 5900 LV SCANNING ELECTRON MICROSCOPE T235601

• Fabricante: Jeol
• Modelo: JSM

JEOL Column Mechanical Lens Assembly JWS-2000 Wafer Defect Review SEM Working

• Fabricante: Jeol

Mpn: Columna Ensamblaje de Lentes Mecánicas | Número de pieza: Columna Ensamblaje de Lentes Mecánicas

JEOL Column Pneumatic Sample Gate JWS-7555S Wafer Defect Review SEM Working

• Fabricante: Jeol

Mpn: Puerta de muestreo neumática | Número de pieza: Puerta de muestreo neumática

FEI Company EBSD Detector KE Amplificador de preamplificador XL 30 Microscopio ESEM de emisión de campo funcionando

• Fabricante: FEI

System/tool: FEI Company XL 30 Field Emission ESEM | Mpn: Detector EBSD KE Preamplificador | Número de pieza: Detector EBSD KE Preamplificador

Conjunto Detector de Columna SEM de FEI Company XL 30 Microscopio ESEM de emisión de campo en funcionamiento

• Fabricante: FEI

Mpn: Conjunto Detector de Columna SEM | System/tool: FEI Company XL 30 Field Emission ESEM | Número de pieza: Conjunto Detector de Columna SEM

FEI Company PW 6831/00 Chamber Door Stage NC 9432 068 31001 XL 30 ESEM Excedente

• Fabricante: FEI

Mpn: PW 6831/00 | System/tool: Sistema FEI Company XL 30 Field Emission ESEM | Número de pieza: PW 6831/00

FEI Company Preamplificador Sensible a la Luz XL 30 Field Emission ESEM Repuesto de Trabajo

• Fabricante: FEI

System/tool: FEI Company XL 30 Field Emission ESEM | Mpn: Preamplificador Sensible a la Luz | Número de pieza: Preamplificador Sensible a la Luz