Building Filters
- Vendedor de confianza
JEOL JSM-6300F Ion Vacuum Pump Magnet Assembly Wafer Defect Review SEM Working
- Fabricante: Jeol
- Modelo: JSM
System/tool: JEOL JSM-6300F SEM Scanning Electron Microscope System | Mpn: Ensamblaje de Imán de Bomba de Vacío de Iones | Número de pieza: Ensamblaje de Imán de Bomba de Vacío de Iones
$805 USDAlbuquerque, Nuevo México - Vendedor de confianza
FEI Company 4022.197.94765 Procesador PCB Tarjeta SCDR 4022.192.71114 XL 830 Usado
- Fabricante: FEI
Mpn: 4022.197.94765 | Pieza de la empresa fei: 4022.192.71114 | System/tool: FEI Company XL 830 DualBeam FIB-SEM Microscopio enfocado de haz de iones | Número de pieza: 4022.197.94765
$1,004 USDAlbuquerque, Nuevo México - Vendedor de confianza
Phillips 4022 192 70971 Processor PCB Card XAIB FEI Company XL 30 ESM Working
- Fabricante: Phillips
Mpn: 4022 192 70971 | System/tool: FEI Company XL 30 Field Emission ESEM | Número de pieza: 4022 192 70971
$908 USDAlbuquerque, Nuevo México - Vendedor de confianza
Tester Extender Board PCB 4022 106 2702 FEI XL 30 Working
- Fabricante: Philips
- Modelo: 4022
Mpn: 4022 192 70771 | System/tool: FEI Company XL 30 Field Emission ESEM | Número de pieza: 4022 192 70771
$860 USDAlbuquerque, Nuevo México - Vendedor de confianza
JEOL AP002821-01 IMAGE PRCS PB PCB Card AP003368-00 JWS-7555S SEM Working
- Fabricante: Jeol
Mpn: AP002821-01 | System/tool: JEOL JWS-7555S Wafer Defect Review SEM | Número de pieza: AP002821-01 | Pieza de placa hija n.º: AP003368-00, MÓDULO LCA(1)
$1,309 USDAlbuquerque, Nuevo México - Vendedor de confianza
JEOL LOW V-SIDE CKT Controller Assembly PCB BP101667-01 BP101993-01 JWS-2000 SEM
- Fabricante: Jeol
Mpn: LOW V-SIDE CKT | Número de pieza: LOW V-SIDE CKT
$2,510 USDAlbuquerque, Nuevo México - Vendedor de confianza
JEOL BP101734-02 SWP GEN PB(1) PCB Card JWS-2000 Wafer Review SEM Working
- Fabricante: Jeol
System/tool: JEOL JWS-2000 Wafer Defect Review SEM | Mpn: BP101734-02 | Número de pieza: BP101734-02
$909 USDAlbuquerque, Nuevo México - Vendedor de confianza
JEOL BP101760-00 Collector PB PCB Card JWS-2000 Wafer Defect Review SEM Working
- Fabricante: Jeol
Mpn: BP101760-00 | System/tool: JEOL JWS-2000 Wafer Defect Review SEM | Número de pieza: BP101760-00
$1,009 USDAlbuquerque, Nuevo México - Vendedor de confianza
JEOL BP101501-01 Tarjeta de Señal de Imagen PCB IMG SIG CONT MPB JWS-2000 SEM Funcionando
- Fabricante: Jeol
Mpn: BP101501-01 | System/tool: JEOL JWS-2000 Wafer Defect Review SEM | Número de pieza: BP101501-01
$509 USDAlbuquerque, Nuevo México - Vendedor de confianza
JEOL AP002210(00) Processor PCB Card FE CANSEL PB JSM-6300F SEM Working Surplus
- Fabricante: Jeol
Mpn: AP002210(00) | Número de pieza: AP002210(00)
$1,007 USDAlbuquerque, Nuevo México - Vendedor de confianza
JEOL AP002270(00) I/O PCB Card EXT I/O(FE) JSM-6300F SEM Working Surplus
- Fabricante: Jeol
Mpn: AP002270(00) | Número de pieza: AP002270(00) | Display meter part no: AP000981, TEM-45D
$1,007 USDAlbuquerque, Nuevo México PARTS FEI XL 30 SEM Scanning Electron Microscope EDAX EDS Boards Detector Scope
- Fabricante: Philips
- Modelo: XL 30
Tipo de microscopio: Microscopio electrónico de barrido (SEM) | Uso previsto/disciplina: Laboratorio biológico
$9,950 USDThe Acreage, Florida- Vendedor de confianza
JEOL US124698 PCB Card JSM-6300F SEM Scanning Electron Microscope Working Spare
- Fabricante: Jeol
- Modelo: JSM
Mpn: US124698 | Número de pieza: US124698
$1,006 USDAlbuquerque, Nuevo México - Vendedor de confianza
JEOL JSM-6300F SEM Ensamble de Columna Microscopio Electrónico de Barrido de Trabajo Excedente
- Fabricante: Jeol
- Modelo: JSM
System/tool: JEOL JSM-6300F SEM Scanning Electron Microscope System | Mpn: Columna JSM-6300F
$2,803 USDAlbuquerque, Nuevo México - Vendedor de confianza
JEOL JSM-6300F Vacuum System Operator Interface Panel AP001129-01 Spare de trabajo
- Fabricante: Jeol
System/tool: JEOL JSM-6300F SEM Scanning Electron Microscope System | Mpn: Panel de sistema de vacío | Pcb part no: AP001129-01, VACUUM CONT
$1,507 USDAlbuquerque, Nuevo México
