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LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
- Fabricante: Leica
Proceso: Microscopio de inspección de obleas | Tamaño de la oblea: * | Envío: EXW
Corea del Sur
HP 4145B
- Fabricante: HP
- Modelo: 4145B
Proceso: PARÁMETRO SEMICONDUCTOR | Tamaño de la oblea: * | Envío: EXW
Corea del Sur
LEICA Reichert-Jung,Kensington 300901
- Fabricante: Leica
Proceso: Microscopio de inspección de obleas | Tamaño de la oblea: * | Envío: EXW
Corea del Sur
LEICA AG KENSINGTON 300901
- Fabricante: Leica
- Modelo: KENSINGTON 300901
Proceso: Microscopio de inspección de obleas | Tamaño de la oblea: * | Envío: EXW
Corea del Sur
LEICA AG KENSINGTON 300901
- Fabricante: Leica
- Modelo: KENSINGTON 300901
Proceso: Microscopio de inspección de obleas | Tamaño de la oblea: * | Envío: EXW
Corea del Sur
KEITHLEY KEITHLEY 236
- Fabricante: Keithley
- Modelo: 236
Detalles: Unidad de medida de la fuente | Envío: El embalaje y el envío corren a cargo del comprador | Comentarios: KEITHLEY 236 Unidad de medida de la fuente
Corea del Sur
WONIK IPS MAHA HP
- Fabricante: WONIK IPS
Tamaño de la oblea: 12" | Envío: El embalaje y el envío corren a cargo del comprador | Comentarios: WONIK IPS MAHA HP
Corea del Sur
Corea del Sur
Corea del Sur
2006 SIGMAMELTEC SFG3000
- Fabricante: SIGMAMELTEC
Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: MÁSCARA FOTOGRÁFICA | Envío: EXW
Corea del Sur
OLYMPUS MX80
- Fabricante: Olympus
- Modelo: MX80
Tamaño de la oblea: 8", 12" | Proceso: Alcance | Envío: EXW
Corea del Sur
1995 DNS SK 80BW AVPE
- Fabricante: Dainippon Screen
- Modelo: SK-80BW-AVPE
Tamaño de la oblea: 8" | Envío: EXW
Corea del Sur
Nanometrics Caliper_MOSAIC
- Fabricante: Nanometrics
- Modelo: CALIPERMOSAIC
Envío: El embalaje y el envío corren a cargo del comprador | Comentarios: Calibre nanométrico_MOSAIC
Corea del Sur
E-TECH SOLUTION INSPECTION SCOPE
- Fabricante: Kannegiesser-Etech
Proceso: ALCANCE DE LA INSPECCIÓN | Tamaño de la oblea: * | Envío: EXW
Corea del Sur
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