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Usado Metrología / Inspección (Semiconductores) en Corea del Sur

  • RUDOLPH WV320 MACRO

    RUDOLPH WV320 MACRO

    • usado

    • Fabricante: Rudolph

    Tamaño de la oblea: 8" | Envío: EXW

    Corea del Sur
  • RUDOLPH WV320

    RUDOLPH WV320

    • usado

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: WV320

    Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: Macroinspección | Envío: EXW

    Corea del Sur
  • 2003 HITACHI RS4000

    2003 HITACHI RS4000

    • usado

    • Fabricante: Hitachi
    • Modelo: RS 4000

    Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: REVISIÓN DE DEFECTOS SEM | Envío: EXW

    Corea del Sur
  • HSEB AXIOTRON 300

    HSEB AXIOTRON 300

    • usado

    • Fabricante: HSEB

    Envío: EXW

    Corea del Sur
  • 2010 HITACHI IS3200SE

    2010 HITACHI IS3200SE

    • usado

    • Fabricante: Hitachi
    • Modelo: IS3200SE

    Tamaño de la oblea: 12" | Envío: EXW

    Corea del Sur
  • JORDANVALLEY JVX6200

    JORDANVALLEY JVX6200

    • usado

    • Fabricante: JORDANVALLEY

    Tamaño de la oblea: 12"

    Corea del Sur
  • 2010 RUDOLPH WS3840

    2010 RUDOLPH WS3840

    • usado

    • Fabricante: Rudolph
    • Modelo: WS3840

    Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: Metrología de protuberancias en 3D | Envío: EXW

    Corea del Sur
  • 2010 Kobelco SBW-330

    2010 Kobelco SBW-330

    • usado

    • Fabricante: Kobelco
    • Modelo: SBW-330

    Detalles: Pruebas y metrología de obleas | Envío: El embalaje y el envío corren a cargo del comprador | Comentarios: SBW-330 Ensayo y metrología de obleas

    Corea del Sur
  • JEOL JWS-7515

    JEOL JWS-7515

    • usado

    • Fabricante: Jeol
    • Modelo: JWS-7515

    Detalles: Inspección de obleas | Envío: El embalaje y el envío corren a cargo del comprador | Comentarios: JEOL JWS-7515 Inspección de obleas

    Corea del Sur
  • 2006 HITACHI IS2700E

    2006 HITACHI IS2700E

    • usado

    • Fabricante: Hitachi
    • Modelo: IS2700SE

    Tamaño de la oblea: 12" | Detalles: Inspección por haz E | Envío: El embalaje y el envío corren a cargo del comprador | Comentarios: HITACHI IS2700SE Inspección de vigas E

    Corea del Sur
  • 2011 Jordan valley semiconductors JVX6200I

    2011 Jordan valley semiconductors JVX6200I

    • usado

    • Fabricante: Valley
    • Modelo: JVX6200I

    Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: Metrología de rayos X (Reflectividad de rayos X) | Envío: EXW

    Corea del Sur
  • 2005 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

    2005 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

    • usado

    • Fabricante: Nanometrics

    Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: Inspección de máscaras y obleas | Envío: EXW

    Corea del Sur
  • 1997 LG SEMICON CLS-9002

    1997 LG SEMICON CLS-9002

    • usado

    • Fabricante: LG SEMICON

    Proceso: 3ª INSPECCIÓN ÓPTICA | Tamaño de la oblea: * | Envío: EXW

    Corea del Sur
  • 2005 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

    2005 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

    • usado

    • Fabricante: Nanometrics

    Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: Inspección de máscaras y obleas | Envío: EXW

    Corea del Sur
  • 2006 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

    2006 NANOMETRICS NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

    • usado

    • Fabricante: Nanometrics

    Tamaño de la oblea: 12" | Proceso: Inspección de máscaras y obleas | Envío: EXW

    Corea del Sur
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