Nuevo Prueba Y Medición

HGTECH Serie de detección de defectos Equipo de detección de defectos en sustratos de semiconductores

• Fabricante: Hgtech

Artículo: Parámetros principales | Parámetros generales: Tamaño de oblea; Estándar 4", 6" (ampliable 4"- 8") | Número de cajas: Doble piso, 14 piezas | Método de carga y descarga: Robot, escáner cartográfico | Pl...

Serie de detección de defectos en obleas HGTECH Equipo de detección de defectos en obleas de semiconductores

• Fabricante: Hgtech

Artículo: Parámetros principales | Parámetros generales: Tamaño de la oblea; 4", 6" (marco de hierro con película azul) | Número de cajas: 2 pcs | Método de carga y descarga: Robot, escáner cartográfico | Platafo...

台式AOI機 Desktop AOI Machine

TEL P12XLn

• Fabricante: Tokyo Electron - TEL

Advantest T5375

• Fabricante: Advantest
• Modelo: T5375

Advantest T5365P

• Fabricante: Advantest
• Modelo: T5365P

Advantest T5377S

• Fabricante: Advantest
• Modelo: T5377

TEL P8XL

• Fabricante: Tokyo Electron - TEL

Advantest T5588

• Fabricante: Advantest
• Modelo: T5588

Advantest T5588

• Fabricante: Advantest
• Modelo: T5588

Inspección Semi Automática AOI

• Fabricante: SEM

TEL P12XL

• Fabricante: Tokyo Electron - TEL
• Modelo: P-12XL

Teradyne UltraFLEX

• Fabricante: Teradyne

T5335

• Fabricante: Advantest
• Modelo: T5335

Advantest M6541AD

• Fabricante: Advantest
• Modelo: M6541AD