F54 Automated Thickness Mapping Systems en Singapur

La espesura de película de muestras de hasta 450 mm de diámetro se mapea rápida y fácilmente con el sistema espectral avanzado de reflectancia F54. La plataforma motorizada r-θ se desplaza automáticamente a los puntos de medición seleccionados y ofrece mediciones de espesor tan rápidas como dos puntos por segundo.
Elija uno de los docenas de patrones de mapeo polar, rectangular o lineal predefinidos, o cree el suyo propio sin límite en el número de puntos de medición. Todo el sistema de escritorio se instala en minutos y puede ser utilizado por cualquier persona con habilidades básicas de computadora.
El sistema de mapeo de espesor de película F54 se conecta al puerto USB de su computadora Windows® y puede configurarse en minutos.
Los diferentes instrumentos se distinguen principalmente por el espesor y el rango de longitudes de onda. Por lo general, se requieren longitudes de onda más cortas (p. ej., F54-UV) para la medición de películas más delgadas, mientras que longitudes de onda más largas permiten la medición de películas más gruesas, más rugosas y más opacas.