Usado Metrología / Inspección (Semiconductores)

BALLUFF BOS Sensor 26K-PA-1LHC-S4-C

• Fabricante: Balluff

Escala FAGOR COVP-1645

• Fabricante: Fagor

KLA_TENCOR CI T1X0

• Fabricante: KLA_TENCOR

Proceso: CI T1X0 REV.2 | Envío: EXW

2000 RUDOLPH METAPULSE200

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamaño de la oblea: 8" | Proceso: MET | Envío: EXW

KLA_TENCOR CI T1X0

• Fabricante: KLA_TENCOR

Proceso: CI T1X0 | Envío: EXW

2004 RUDOLPH METAPULSE200

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamaño de la oblea: 8" | Proceso: MET | Envío: EXW

METROLOGY Q230

• Fabricante: METROLOGY

Tamaño de la oblea: 8"

METROLOGY P2

• Fabricante: METROLOGY

HSEB AXIOSPECT 300

• Fabricante: HSEB
• Modelo: AXIOSPECT 300

Envío: EXW

2008 RUDOLPH NSK 105

• Fabricante: Rudolph

Envío: EXW

2006 NANOMETRICS CALIPER_ULTRA

• Fabricante: Nanometrics

Tamaño de la oblea: 12" | Envío: EXW

2014 Lasertec BGM300

• Fabricante: Lasertec

Tamaño de la oblea: 12 | Envío: EXW

AMAT SEMVision

• Fabricante: Amat
• Modelo: Semvision

Tamaño de la oblea: 12" | Envío: EXW

KLA P20H

• Fabricante: KLA-Tencor
• Modelo: P20H

Tamaño de la oblea: 3

2001 Rudolph Metapulse 200X CU

• Fabricante: Rudolph
• Modelo: Metapulse 200

Tamaño de la oblea: 8" | Proceso: MET | Envío: EXW